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 今回はパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体技術者検定エレクトロニクス2級」の「応用と品質」分野の問題を紹介する(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 本稿で紹介するのは、半導体デバイスの信頼性に影響する偶発的な故障に関する問題である。半導体デバイスの集荷後に、その機能や性能に影響する、さまざまな偶発的な故障が知られている。エレクトロニクス2級の応用と品質の分野では、代表的な故障モードの理解が求められている。

 今回の問題は故障モードに関する基本的な理解を問うものであるが、難易度は★★★である(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。