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 今回はパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体技術者検定エレクトロニクス2級」の「応用と品質」分野の問題を紹介する。(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 本稿で紹介するのは、半導体の信頼性に関する問題である。信頼性に影響を及ぼす故障については「応用と品質13」などでも触れてきたが、中でも静電破壊は厄介な故障である。取り扱いに気をつければ防げるといわれ、世の中にはさまざまな取り扱いのための治具類も販売されているが、いつもそうした取り扱いが可能なわけではない。仮にできたとしても100%確実に防げるとも思えない。半導体に直接触れる機会を持つ設計者は、大事な実験デバイスを壊してしまい悔しい思いをした経験は、多くの人が一度ならず持っているに違いない。故障解析の現場でも、故障箇所を見た途端に「またか!」の声をよく聞いたものである。エレクトロニクス2級の応用と品質の分野では、静電破壊をよく理解し実務に役立つ理解が求められている。

 今回の問題の難易度は★★★である。本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい。今回は当事者にとっては常識的なレベルの問題なので、確実に解答してほしい。