全2115文字
PR

 今回のコラムはパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体技術者検定エレクトロニクス3級」の予想問題を紹介する(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 本稿では半導体デバイスの外部要因による故障に関して問う。半導体はさまざまな要因によって故障するが、その一つに、実使用状態における静電気やα線のストレスに起因する誤動作や破壊がある。

 今回の問題の難易度は★★★である。本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい。本問題は平均的な難易度であり、よく考えてしっかりと正解してほしい。