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 今回はパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体技術者検定エレクトロニクス2級」の「応用と品質」分野の問題を紹介する(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 本稿で紹介するのは、半導体のアダプティブ(適応)テストに関する問題である。従来はテスト内容やテストフローは固定的なものとして考えられてきた。その変更には故障解析による物理的原因の特定や、長期間の影響モニタリングなどの裏付けが必要とされた。しかし微細加工の製造プロセスでの短期間での歩留まりや品質向上には、最新の総合的な分析技術を利用したダイナミックな手法が用いられるようになってきている。エレクトロニクス2級の応用と品質の分野では、最新のテスト技術の関連知識も求められている。

 今回の問題の難易度は★★★である。本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい。今回はなじみの薄い方も多いかもしれないが、アダプティブテストの考え方を理解してほしい。

【エレクトロニクス2級 応用と品質】【問題16】難易度:★★★

問題:

アダプティブテストに関する記述で、以下の中から誤っているものを選びなさい。

  • (1)製品テスト品質の維持・向上やテストコストの改善のために実施される。
  • (2)テスト内容、条件、フローなどを動的に適応させる。
  • (3)複数の工程間にまたがる情報の伝達も可能である。
  • (4)いったん決めたテスト内容は保持して、不足するテスト項目を追加していく。