全1359文字
PR

 今回のコラムはパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体技術者検定エレクトロニクス2級(パワーエレクトロニクス)」の予想問題を紹介する(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 本稿では、半導体技術者検定エレクトロニクス2級(パワーエレクトロニクス)の予想問題の中から、パワートランジスタの短絡耐量について問う。これはパワートランジスタ短絡時の信頼性を表す重要な指標であるため、よく理解しておく必要がある。検定に合格するためにはぜひ正解しておきたい。

 今回の問題の難易度は★である。本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい。今回は易しいレベルの問題である。

【問題19】難易度:★

 パワートランジスタの短絡耐量の指標に関し、以下の中で正しいものを選びなさい。

  • (1)短絡耐量の指標は、パワートランジスタが破壊する時点の温度である。
  • (2)短絡耐量の指標は、パワートランジスタが破壊に至る短絡期間の全エネルギーである。
  • (3)短絡耐量の指標は、パワートランジスタが短絡してから破壊に至るまでの時間である。
  • (4)短絡耐量の指標は、パワートランジスタが破壊する時点の電流である。