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今回はパワーデバイス・イネーブリング協会（PDEA）が主催する「半導体技術者検定エレクトロニクス2級」の「応用と品質」分野の問題を紹介する。
本稿で紹介するのはデジタル回路のテストに関する問題である。デジタル回路ではスキャンテストが主流であり、実際の作業は自動設計ツール（EDAツール）がほとんど行ってくれる。しかし、ツールに任せきりにせず、基本的な原理を知り、その特徴を把握することは重要である。今回のテーマは設計と製造、および応用と品質分野の両方で取り上げられている。
今回の問題の難易度は★★である。本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数（難易度に応じて1～5個）で表しており、★の数が多いほど難しい。専門的な用語が多いので戸惑うかもしれないが、原理を理解すれば解ける問題であると思う。
難易度：★★
次の文章の空欄（ ）に入る正しい言葉の組合わせを（1）～（4）の中から選びなさい。
ブロードサイド方式と呼ばれるスキャンベースの遅延故障テスト手法では、（ア）動作によりデバイスの外部端子の入力から（イ）の状態を設定したのちに、連続した2つのクロックによる（ウ）動作により（エ）を伝播した信号の変化値が次段の（イ）に取り込まれる。取り込まれた信号値は、再び（ア）によりチップ外部端子の出力に取り出される。
（1）ア：機能 イ：フリップフロップ ウ：スキャン エ：組合せ回路
（2）ア：スキャン イ：フリップフロップ ウ：機能 エ：組合せ回路
（3）ア：機能 イ：組合せ回路 ウ：機能 エ：フリップフロップ
（4）ア：スキャン イ：組合せ回路 ウ：機能 エ：フリップフロップ
