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 今回はパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体技術者検定エレクトロニクス2級」の「応用と品質」分野の問題を紹介する。

 本稿で紹介するのはデジタル回路のテストに関する問題である。デジタル回路ではスキャンテストが主流であり、実際の作業は自動設計ツール(EDAツール)がほとんど行ってくれる。しかし、ツールに任せきりにせず、基本的な原理を知り、その特徴を把握することは重要である。今回のテーマは設計と製造、および応用と品質分野の両方で取り上げられている。

 今回の問題の難易度は★★である。本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい。専門的な用語が多いので戸惑うかもしれないが、原理を理解すれば解ける問題であると思う。

難易度:★★

 次の文章の空欄( )に入る正しい言葉の組合わせを(1)~(4)の中から選びなさい。

 ブロードサイド方式と呼ばれるスキャンベースの遅延故障テスト手法では、(ア)動作によりデバイスの外部端子の入力から(イ)の状態を設定したのちに、連続した2つのクロックによる(ウ)動作により(エ)を伝播した信号の変化値が次段の(イ)に取り込まれる。取り込まれた信号値は、再び(ア)によりチップ外部端子の出力に取り出される。

(1)ア:機能    イ:フリップフロップ  ウ:スキャン  エ:組合せ回路
(2)ア:スキャン  イ:フリップフロップ  ウ:機能    エ:組合せ回路
(3)ア:機能    イ:組合せ回路     ウ:機能    エ:フリップフロップ
(4)ア:スキャン  イ:組合せ回路     ウ:機能    エ:フリップフロップ