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 今回はパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体技術者検定エレクトロニクス2級」の「応用と品質」分野の問題を紹介する。

 本稿で紹介するのは自動車用機能安全規格(ISO26262)に関する問題である。高い信頼性が求められる自動車用の半導体デバイスはISO26262に準拠することが求められる。出題するのは要求される自動車安全度水準(ASIL)に対応した半導体デバイスの故障率を求める問題であるが、簡単な計算で可能なことを理解してほしい。

 今回の問題の難易度は★★★である。本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい。

難易度:★★★

 自動車用機能安全規格(ISO26262)におけるシステム信頼度に関して、以下の文章の空欄(ア)(イ)(ウ)に入る正しい言葉の組み合わせを(1)~(4)の中から選びなさい。

 安全関連システムにおいては、自己診断により危険側故障率を低減できる。例えば、自己診断率がASIL Cの要求レベルである97%とした場合、自己診断後の危険側故障率をASIL C要求レベルである100FIT以下にするためには、自己診断前の危険側故障率は(ア)以下でなければならない。またASIL Dを目標とする場合は、自己診断率をASIL D要求レベルである99%とした場合、自己診断後の危険側故障率は10FIT以下にするためには、自己診断前の危険側故障率は(イ)でなければならない。ここで、ハードウェアシステムが100個のバイパスコンデンサなどの受動部品と5個の半導体デバイスなどの能動部品から構成され、自己診断前の危険側故障率は受動部品が1個当たり1FITとすると、能動部品1個当たりの自己診断前の危険側故障率は(ウ)以下でなければならない。ただし各部品の故障はそれぞれ独立にシステムに影響するとする。

  • (1) ア:約3300FIT  イ:約500FIT  ウ:約100FIT
  • (2) ア:約1000FIT  イ:約150FIT  ウ:約15FIT
  • (3) ア:約3300FIT  イ:約1000FIT  ウ:約180FIT
  • (4) ア:約1000FIT  イ:約15FIT   ウ:約3FIT