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 米pSemiは、第5世代移動通信システム(5G)のテスト機器や計測器に向けたRFデジタル・ステップ・アッテネーター(DSA)IC「PE43610/PE43614」を発売した(ニュースリリース)。同社によると、「新製品の特徴は、周波数帯域や減衰量の誤差、スイッチング時間などの特性が競合他社品に比べて優れている点にある」という。5Gのテスト機器/計測器のほか、ポイント・ツー・ポイントの無線通信システム、VSAT(Very Small Aperture Terminal)などに使える。

第5世代移動通信システム(5G)対応のテスト機器や計測器に向けたRFデジタル・ステップ・アッテネーターIC
第5世代移動通信システム(5G)対応のテスト機器や計測器に向けたRFデジタル・ステップ・アッテネーターIC
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 製造技術は、同社独自のSOI技術「UltraCMOS」である。FETのリニアリティー(直線性)を高める同社独自技術「HaRP」を採用した。周波数帯域はPE43610が9k〜13GHz、PE43614が9k〜45GHz。減衰量の設定範囲は2製品どちらも0〜31.5dBである。設定分解能は1.0dB(5ビット)、もしくは0.5dB(6dB)。減衰量の誤差は9k〜13GHzの周波数範囲の場合に、正側が+1dB+(減衰量の4.5%)で、負側が−1dBである。スイッチング時間は330ns(標準値)と短い。PE43610の挿入損失は、9k〜2GHzにおいて1.6dB(標準値)、2G〜6GHzにおいて2.0dB(標準値)、6G〜13GHzにおいて2.5dB(標準値)。PE43614は9k〜13GHzにおいて2.5dB(標準値)、13G〜26.5GHzにおいて3.0dB(標準値)、26.5G〜45GHzにおいて4.5dB(標準値)。反射損失は、PE43610が9k〜13GHzにおいて13dB(標準値)、PE43614が9k〜45GHzにおいて13dB(標準値)。RF入出力端子の特性インピーダンスは50Ωである。

 減衰量の切替時にグリッチは一切発生しないという。静電気放電(ESD)耐圧は、人体帯電モデル(HBM)において±1kVを確保した。電源電圧範囲は+2.3〜5.5V。パッケージは2製品どちらも、実装面積が4mm×4mmの24端子LGA。動作温度範囲は−40〜+105℃。すでに量産出荷を始めている。1000個購入時の参考単価は、PE43610が15.17米ドル、PE43614が48.53米ドルである。