東芝が車載向けLDMOSの耐圧劣化メカニズムを解明、信頼性向上へ

耐圧劣化のメカニズム(1) DAHC(Drain Avalanche Hot Carrier)ストレス電圧を印加した際の電界分布とインパクトイオン化分布。東芝デバイス&ストレージのスライド
耐圧劣化のメカニズム(1)
DAHC(Drain Avalanche Hot Carrier)ストレス電圧を印加した際の電界分布とインパクトイオン化分布。東芝デバイス&ストレージのスライド

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