米国ワシントン州シアトルで開催の「ITC(International Test Conference)2014」の本会議が開幕した。ITC 2014は第45回目の節目となる。一般論文セッションの始まる前日(10/20)の夜には、例年どおりマンデーパネルが設置された。今年のテーマは、アナログ回路でのテスト設計である。

 ICの利用分野の急速な拡大に伴って、テストコストへの関心は再び高まっている。実際、ITRS(International Technology Roadmap for Semiconductors)のロードマップ等でも、テストコストの議論は活発だ。その中でも、IoT(Internet of things)のトレンドと相俟って、アナログ回路のテスト容易化(DFT:design for testability)が重要な技術の一つとして注目を集めている。しかし、ITC等のテスト関連国際会議の論文や論文誌等の学術論文で提案されているアナログDFT手法は、必ずしも実用化が進んでいない。

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