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佐藤 康夫 半導体理工学研究センター(STARC)設計技術開発部

これまでの連載では,チップ設計に焦点を合わせてきたが,今回はテストについて考察する。テストとは,製造したチップをLSIテスター上でチェックすることを指す。それに必要なデータを作成するのがテスト設計である。大規模・高速な先端SoC(system on a chip)を安価なLSIテスターでテストするために,DFT(design for testability)と呼ぶテスト設計技術を活用する。それを支援するDFTツールが,大手EDAベンダーから発売され,半導体メーカーでも積極的に使われ始めた。 (本誌)

 今回はテスト設計を採り上げる。ここで言うテストとは,製造したチップが良品か不良品かを判定する工程を指す。「検証」はチップの設計が正しいかどうかをチェックしていたが,「テスト」は製造したチップに問題がないかどうかを見る。通常はLSIテスターを使って,チップをテストする。テスト設計とは,テストに必要なデータをそろえることである。