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 今年のITC(2006 IEEE International Test Conference)は,10月22日-27日に米国カリフォルニア州Santa Claraで開催された。ITCはテスト技術に関する世界最大の国際会議であり,毎年100件を超える論文発表があり世界各国のエンジニア,研究者が参加する。今回は,前回の2000名を大幅に上回る3000名以上の参加があり,往年の盛況を彷彿とさせる賑わいを見せた。

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