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 米Atrenta Inc.は,LSI設計の上流における解析に関連した五つの米国特許を取得したと発表した(ニュース・リリース)。いずれも,同社の設計解析ツール「SpyGlass」に関連する。

 一つ目は,US patent 6,876,934で,タイトルは"Method for Determining Fault Coverage from RTL Description"である。2005年4月5日に成立している。この特許の技術によって,RTLコードを解析してテスト・カバレッジを高精度に予測できるという。

 二つ目は,US patent 6,993,733で,タイトルは"An Apparatus and Method for Handling of Multi-Level Circuit Design Data"である。2006年1月31日に成立している。この特許は,設計の早い段階で詳細設計をエミュレートする手順についてのものという。

 三つ目は,US patent 7,076,748で,タイトルは"Method for Efficient Identification and Implementation of Clock Gating of Integrated Circuits"である。2006年7月11日に成立している。タイトル通りに,クロック・ゲーティングの認識と実装を効率化する技術だという。

 四つ目は,US patent 7,073,146で,タイトルは"Automatic Assertion Generation for Functional Validation of Integrated Circuits"である。2006年7月4日に成立している。IC設計中の不安定なクロック・ドメイン交差を発見し,安定化させるための技術の特許だという。

 五つ目は,US patent 7,152,216で,タイトルは"Method, System, and Computer Program Product for Automatic Insertion and Correctness Verification of Level Shifters in Integrated Circuits with Multiple Voltage Domains"である。2006年12月19日に成立している。タイトル通りにマルチボルテージのLSIでレベル・シフターを自動挿入/検証する技術という。