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 三菱電機は,DRAMやSRAMといったメモリ・チップの量産テストに,進化的計算(EC:evolutionary computation)手法を適用し,同テストの効率化を図ったと発表した。1998年10月に量産テストへの適用を始めた。EC手法は,テスト項目の最適化処理に使う。この処理の作業時間が,従来に比べて1/100に短縮できたという。

生物の個体になぞらる

 メモリ・チップのテスト項目は多岐に渡る。チップ開発時にはすべての項目をテストする必要があるが,量産テストでは必要最低限の項目に絞り,テスト・コストを削減することが重要になる。従来,テスト項目を削減するかどうかは,そのテスト項目で発見された不良品の個数など(テストの有効性)を参考に,人手で決めていた。今回,それをコンピュータで自動処理するようにした。

 EC手法では求めたい解の候補(今回は,テスト項目のセット)を,生物の個体(individual)とする。個体をいくつか作り,外部刺激(今回はテスト項目の有効性)を与え,より優勢な(今回は,テスト項目が少ないこと)個体を絞り込んでいく。個体を外部刺激で変化させたり,合体させたり,淘汰させたりすることに加えて,突然変異を起こさせて,より優勢な個体を探る。

社外へ有償で提供

 今後,三菱電機は,今回の手法をフラッシュEEPROMなど他のメモリへも適用していく。さらに,今回の手法を社外へ有償で提供する。