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 米BTA Technology, Inc.は,マスク・レイアウト関係のEDAツールの較正に使うテスト・チップに関する技術「DirectNode」を発表した(リリース文)。DirectNodeに沿ったテスト・チップを使うことで,0.01fFの容量を測定できるようになり,ツールの較正の精度を上げられるという。米Mentor Graphics Corp.は,この技術を寄生パラメータ抽出ツール「xCalibre」に適用した。