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米Credence Systems Corp.は,同社のLSIテスター「Diamond」シリーズ向けのアナログ・テスト・モジュールとして,「MultiWave」を発売した。同社は2007年12月5日~7日に開催の「SEMICON Japan 2007」に,MultiWaveやDiamondの実物を展示した。

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