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VirtualScanで作る圧縮スキャン回路 SynTestのデータ。
VirtualScanで作る圧縮スキャン回路 SynTestのデータ。
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 米SynTest, Inc.は,圧縮スキャン・テストに関連した米国特許を2件取得したと発表した(ニュース・リリース)。同社はこれまでに19件の特許を取得してきたが,今回の2件はとりわけ重要だという。

 2件の特許とも,同社の圧縮スキャン・テスト向けDFTツール「VirtualScan」のベースとなっている技術に関係しているからだとする。VirtualScanは2002年のDAC(Design Automation Conference)で発表された。

 今回の2件の特許は共に2008年8月12日に成立した。1件の特許番号はUS 7,412,672で,タイトルは「Method and apparatus for broadcasting scan patterns in a scan-based integrated circuit」である。もう1件の特許番号はUS 7,412,637で,タイトルは「Method and apparatus for broadcasting test patterns in a scan based integrated circuit」となっている。

 SynTestによれば,これらの特許の技術によって,テスト・データ量やテスト時間を抑えながら,高い故障検出率を得られるようになったという。具体的な技術としては,新たな圧縮アーキテクチャを挙げる。

 このアーキテチャの要素としては,入力パターンの復元(展開)向けのマルチプレクサのネットワークや,スキャン・チェーンの再オーダリングに使うオプションのスキャン・コネクタがある。スキャン・チェーンの再オーダリングは故障検出率を上げるのに寄与するという。