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ATE Summit Meetingについて説明する青木英之氏 日経BPが撮影。スライドは同氏のデータ。
ATE Summit Meetingについて説明する青木英之氏 日経BPが撮影。スライドは同氏のデータ。
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STILについて説明する坂井謙一氏 日経BPが撮影。スライドは同氏のデータ。
STILについて説明する坂井謙一氏 日経BPが撮影。スライドは同氏のデータ。
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PTIMについて説明するMandip Singh Khorana氏 日経BPが撮影。スライドは同氏のデータ。
PTIMについて説明するMandip Singh Khorana氏 日経BPが撮影。スライドは同氏のデータ。
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 ロジック/SoC向けLSIテスターの標準化を手がける米STC(Semiconductor Test Consortium, Inc.)は,2008年9月24日に東京で第28回STC日本全体会議を開催した。STC全体の今後の方向性の見通しや,各ワーキング・グループ活動の進捗に関する発表があった。

 最初に登壇したのは,STCの日本サイドで実質トップの青木英之氏(ルネサス テクノロジ)である。同氏は「まだ何も決まっているわけではないが」と前置きした上で,STCの活動の見直し論が強まっていることを説明した。

 STCは中立的な組織であるが,アドバンテストの実質的な影響力が強いため,他の大手LSIテスター・メーカー,例えば米Teradyne, Inc.や米Verigy Inc.が企業としては加盟していない。青木氏によれば,STCの会合(2008年7月の「ATE Summit Meeting」)では,TeradyneやVerigyの社員から,今の枠組みではなく,もっと公的な組織の下で活動すべきだという指摘があったという。

 公的組織としては,ファブレス半導体メーカーの業界団体の「米GSA(Global Semiconductor Alliance)」(Tech-On!関連記事1)やIEEEが,候補として両テスター・メーカーから挙げられた。ただしLSIテスターの標準化が必要かどうかという点では,「必要」という認識で一致していたという。特に半導体メーカーからそのような声が大きく挙がっているとした。

 青木氏は,STCの日本サイドとして,年内に今後の方針を決める必要があると述べて,選択肢で三つの例を挙げた。(1)現在の活動は続けるがSTCではなく,別の機関を立ち上げる,(2)これまで通りにSTCの日本の組織として存続する,(3)すべてをやめる。最後に同氏は,「まだ何も決まってはいないが,皆さんと早急に議論を詰めたい」と述べた。