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SoC(system on a chip)の高度化に伴なって,A-D変換器やD-A変換器のテストの重要度が上がっている。10月28日~30日に米カリフォルニア州Santa Claraで開催のテストの国際イベント「ITC(International Test Conference) 2008」では,アナログ-デジタル混在テストに関して日本から3件の発表があった。

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