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 「Electronic Design and Solution Fair 2009(EDSF)」(2009年1月22~23日)の「システム・デザイン・フォーラム 2009」では,東京大学生産技術研究所 教授の平本俊郎氏が「最先端統計から見た32nmデバイス特性ばらつき」と題して講演した。同氏がグループ・リーダーを務める,半導体MIRAIプロジェクトと半導体先端テクノロジーズ(Selete)の共同によるデバイス特性バラつきの研究成果などを紹介した。

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