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バラつき考慮の設計フロー Si2のデータ。
バラつき考慮の設計フロー Si2のデータ。
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SSTAとSTAの解析結果例 Si2のデータ。
SSTAとSTAの解析結果例 Si2のデータ。
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 EDA標準化などを行なう非営利機関の米Si2(Silicon Integration Initiative, Inc.)傘下のOpen Modeling Coalition (OMC) は,バラつき考慮設計の解説書「StatisticalMethods for Semiconductor Chip Design」の公開を始めたと発表した(ニュース・リリース:PDF)。Si2のWWWサイトで閲覧/ダウンロードが無償でできる。

 この解説書はOMCがまとめたもので,A4版相当(レター・サイズ)で53ページのボリュームとなっている。用語の定義,露光限界,STA(static timing analysis)とSSTA(statistical STA)の違い,SSTAを使った設計フロー,バラつきの影響と近似手法,SSTA向けのモデンリング手法などが解説されている。