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半導体プロセスの微細化が進むにつれて,回路動作のタイミング検証に要するコスト増大が問題となってきている。LSIに集積できる回路規模の増大や,タイミング検証に使用する解析条件数(コーナー条件数・動作モード条件数)の増加がその背景にある。このため,高速なタイミング検証環境が切望されていた。

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