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 アドバンテストは,DDR3型SDRAMを同時に256個試験できるメモリーLSIテスター「同時測定数拡張版 T5503 (正式名称:T5503 8448チャンネル テスト・ヘッド)」を開発し,5月より販売を開始したと発表した(ニュース・リリース)。

 1年ほど前に発表した,初代のT5503では同時測定数は128だったので((Tech-On!関連記事),今回,同測数は倍増したことになる。なお今回の機種のテスト速度は,最大3.2Gビット/秒で,初代のT5503と同じである。

 オプションのピン・カードを追加することで,積層DRAMに対しても256個の同時テストが可能になるとする。また今回の機種は,同社で最大のスループット(4万2200個/時)のハンドラ「M6242」と接続することで,量産テスト全体の効率化が可能だという。