PR

　米Mentor Graphics Corp.は，半導体理工学研究センター（STARC）が，Mentorのパラメータ抽出ツール「Calibre xACT 3D」を評価したと発表した（日本語版ニュース・リリース）。Calibre xACT 3Dは，旧・米Pextra Corp.（Mentorが2009年に買収）が持っていた電磁界解析技術を利用することで，高速性と高精度を両立したというパラメータ抽出ツールである（Tech-On!関連記事）。

　ニュース・リリースには，STARCの坪井邦彦氏（開発第2部 Mixed Signal開発室長）のコメントが紹介されている。「今回のベンチマークでは，小規模なセルや配線パターンのみのデータから大規模なブロックまで幅広い評価データを用意して，テストした。その結果，Calibre xACT 3Dはリファレンス値との誤差がほとんどなく，しかも小規模なセルのみならず数百万トランジスタ規模のSRAMにも対応できる速度と容量を備えていることが確認された。STARCで行うデバイス近傍容量に関する様々な調査において，非常に有効なツールとなった」（同氏）。