PR

近年、省エネルギーや創エネルギーへの関心が高まっており、このために窒化ガリウム(GaN)デバイスや炭化シリコン(SiC)デバイス、太陽電池に対する技術開発の加速や量産化、性能向上などに向けた取り組みが急激に進んでいる。これに向けた検査装置3機種を、レーザーテックが製品化した。GaNなどの透明ウエハー向け欠陥検査装置「WASAVIシリーズTROIS33」、SiCウエハー向け欠陥検査装置「WASAVIシリーズSICA6X」、太陽電池向け分光感度分布測定装置「MAPシリーズ SR-MAP」である。前者2装置は「Semicon Japan 2011」に、後者1装置は「PV Japan2011」(いずれも2011年12月7~9日、幕張メッセ)に出展する予定。いずれも2011年12月に受注を開始する。

この記事は会員登録で続きをご覧いただけます

日経クロステック登録会員になると…

新着が分かるメールマガジンが届く
キーワード登録、連載フォローが便利

さらに、有料会員に申し込むとすべての記事が読み放題に!
【春割実施中】日経電子版セットで2カ月無料


日経クロステックからのお薦め

日経クロステック 春割 日経電子版セット 2カ月無料
IT/電機/自動車/建設/不動産の編集記者を募集します

IT/電機/自動車/建設/不動産の編集記者を募集します

“特等席”から未来づくりの最前線を追う仕事です

あなたの専門知識や経験を生かして、「日経クロステック」の記事や書籍の企画、取材・執筆・編集を担う編集記者(正社員)にトライしませんか。編集の経験は問いません。コミュニケーション能力が高く、企画力や実行力があり、好奇心旺盛な方を求めています。

詳しい情報を見る