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 米Mentor Graphics社は、ルネサス エレクトロニクスがMentorのDFT(design for testability)ツール2つを車載ICの開発で適用したと発表した(日本語ニュース・リリース)。ルネサスはこれによって、機能安全性の規格であるISO 26262で規定されるICテスト要件への対応を図る。

 今回、ルネサスが適用したMentor製品は、テストパターン圧縮・伸長回路生成機能付きATPG(automatic test pattern generation)ツールの「Tessent TestKompress」とロジックIC向けBIST(built-in self-test)回路生成ツールの「Tessent LogicBIST」である。この2つを組み合わせて利用することで、テスト回路の面積を削減しながら、低DPM(defects per million)につながる高圧縮のスキャン・テストとBISTを実現するという。

 ニュース・リリースには、ルネサスの浅香 俊治氏(第一事業本部 システムインテグレーション事業統括部 デザインオートメーション部 主管技師)のコメントが紹介されている。「高圧縮スキャン・テストとロジックBISTを組み合わせることで、ISO 26262が求める出荷テストと、出荷後のPOST(power on self-test)に対応できるようになる。圧縮・伸長回路生成機能付きATPGツールとBIST回路生成ツールを別々にではなく、統合ソリューションとして提供するMentorのTessentは、ルネサスにおけるDFT実装フローを簡素化し、テスト回路の面積削減を可能にするとともに、テスト開発時間を削減する。結果として、市場投入を早期に行えるようになる」(同氏)。