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 アドバンテストは、モジュール式のICテスター「T2000」の新テスター・モジュールとして「GVI64」(64ch General purpose voltage-current(VI) module)を発表した(ニュース・リリース1)。新製品は、電力制御や車載向け多ピンICのパラメトリック・テストを行うものである。パワー・マネジメント回路やパワー・アンプ、A-D/D-A変換器などを1チップに集約した、高密度多機能アナログICに対し、幅広いカバレッジと多数個同測テストを提供できるという。

 今回の製品は、従来のICテスターでは複雑に組み上げたパフォーマンス・ボードと複数枚のモジュールを必要とした、パラメトリック・テスト、タイミング・テスト、リニアリティ・テストなどさまざまなテスト機能を、1枚のモジュール・ボードに集約した。これにより、サイクル・タイムの短縮やデバグ効率の向上を実現し、テスト・コストを最小限に抑えることができるとする。また、デジタル・フィードバック技術を改良し、パラメトリック・テストにおける精度の向上と、スイッチ動作時のスパイク防止を可能にした。

 当該モジュールのチャネル数は64。電圧電流レンジは、-64~+85V/240mAで、TMU(timing measurement unit)レンジは-50~+50V/100MHzである。出荷開始は2014年上期(1月~6月)を予定している。

イメージ・センサーのテスト時間を短縮

 さらにアドバンテストは、T2000ベースのイメージ・センサー・テスター向けに、新しい画像処理ユニット「IPE2」を発売した(ニュース・リリース2)。今回のユニットを使用することで、スマートフォンやタブレット、デジタル・カメラ、ビデオ・カメラなどに搭載される先端CMOSイメージ・センサーのテスト時間を大幅に短縮できるという。

 同社によれば、新製品は、新たに開発した4個の画像データ処理用プロセサがフレキシブルに対応し、ピクセル数の高いハイエンドCMOSイメージ・センサーのテスト時間を従来製品比で最大46%削減することができるとする。これで、センサーのテスト・コストを削減し、最終製品のコスト競争力強化に貢献するという。IPE2はすでに出荷を始めている。