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ノートPCの脇に置いた今回の製品 PC画面は今回の製品の操作用GUI。アドバンテストの写真。
ノートPCの脇に置いた今回の製品 PC画面は今回の製品の操作用GUI。アドバンテストの写真。
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 アドバンテストは、少数ピンのアナログICやミックストシグナルIC、センサーICに向けた計測システム「EVA100」を発売した(ニュースリリース)。363mm(W)×205mm(H)× 472mm(D)とコンパクトで、最小構成時9kg以下と軽い。

 同社の看板製品の量産向けICテスターではテストエンジニアによるプログラミングが欠かせないが、今回のシステムはプログラム不要で設計や開発のエンジニアが直観的に操作できるとする。設計評価から量産・選別工程などあらゆるシーンでエンジニアをサポートするという。

 アナログ電圧・電流源、パターンジェネレーター、オシロスコープなど、IC評価時に必要な機能を筐体1台に搭載した。これで、個々の計測器間の煩雑なケーブリングや制御操作を不要にした。また、これらの機能は高いタイミング精度で同時制御が可能なため、高い測定再現性を実現するという。

 デジタル部には、8チャネルの100Mビット/秒のパターンジェネレータを備える。I2CやSPI、JTAGといったプロトコルをサポートする。アナログ部は、電圧レンジ±128V・電流レンジ±2A(DC)/5A(パルス)のVIソース、および電圧レンジ±64V・電流レンジ±500mA(DC)のVIソース、任意波形発生器、デジタイザ、差動電圧測定器を備える。信号のキャプチは4チャネルで1Gサンプル/秒に対応する(なお、2Gサンプル/秒も可能)。