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左がRon Wolfe氏、右がJoey Tun氏 日経エレクトロニクスが撮影。
左がRon Wolfe氏、右がJoey Tun氏 日経エレクトロニクスが撮影。
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報道機関向け説明会でNI Semiconductor Test System(STS)を紹介するRon Wolfe氏 日経エレクトロニクスが撮影。スクリーンはNIのデータ。
報道機関向け説明会でNI Semiconductor Test System(STS)を紹介するRon Wolfe氏 日経エレクトロニクスが撮影。スクリーンはNIのデータ。
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 M&Aが進むなど、成熟がうかがわれる量産用半導体テスター市場(日経テクノロジーオンライン関連記事1)。その市場に最近新規参入したのが、研究開発現場に強い計測制御システムメーカーの米National Instruments社である。

 NIは2014年8月に開いたプライベートイベント「NI Week 2014」で量産用の半導体テスター「NI Semiconductor Test System(STS)」を発表した(同関連記事2)。STSは、同社が研究開発現場向けに長年提供してきたPXI形式の計測制御モジュールで構成している。すでに、独Infineon Technologies社や米Integrated Device Technologyなどが量産テストにSTSを適用しているという。

 NIが量産用半導体テスター市場に新規参入したきっかけを、「NIDays 2014」(日本ナショナルインスツルメンツが2014年10月22日に東京で開催)の会場で聞いた。回答したのは、NIのRon Wolfe氏(Vice President, Semiconductor Test)とJoey Tun氏(Senior Market Development Manager, Semiconductor Test)である。両氏によれば、すでに20年以上前から、大手量産用半導体テスターにはPXIモジュールが取り込まれているという。大手量産用半導体テスターの差異化部分は基本的に高速デジタルテスターモジュールであり、アナログやRFに関しては、NIのようなサードパーティーから購入することが少なくなかった。