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parametric yield, performance yield

 素子の特性ばらつきに依存する歩留まり。ビア(Via)不良といった,故障に起因する歩留まりとは異なる。

 SSTAでは,特に遅延ばらつきが存在する条件下でタイミング制約を満たす確率のことを指す。この場合のパラメトリック・イールドは,すべてのパスがタイミング制約を満たすばらつき変数が存在する領域において,すべてのパスのJPDF(同時密度関数)を積分することによって得られる。

 具体的には,次の式でパラメトリック・イールドを求めることができる。Diを回路内のi番目のパスとし,iは回路内のすべてのパスを網羅するとしたとき