PR
プラーナー シニアコンサルタント 木下悟志 氏
[画像のクリックで拡大表示]
プラーナー シニアコンサルタント 木下悟志 氏

 前回は、製造工程で発生する実際のばらつきと、設計で指定した公差(許容限界の上限値と下限値の幅)の関係を示す工程能力(工程能力指数=Cp、Cpk)について説明しました。工程能力によって不良率を予測できるので、例えばCp=1(±3σ)で考えるのか、Cp=1.33(±4σ)や1.67(±5σ)とするのかで、量産に入ってからの品質安定性が変わってきます。

 具体的には、Cp=1の場合の不良率は0.27%です。Cp=1.33では0.006%(10万個に約6個の不良)、Cp=1.67では0.00006%(1000万個に約6個の不良)となります。0.27%の不良率を許容できる場合は多くないでしょう。もし、現時点でのCpが1だった場合には、不良率を小さくするためにCpを1.33や1.67へと大きくすることを検討することになります。

 では、Cpを大きくするにはどうすればよいのでしょうか。冒頭で説明したように、製造工程でのばらつきと公差の関係によって工程能力の値が変わります。今回は、公差と工程能力の関係を考えながら、公差設計の実践的な進め方について解説します。