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米NVIDIA社は、EM(ElectronicsMigration)解析結果の分析に機械学習を活用することで、EM解析の運用を効率化した成果を、54th Design Automation Conference(DAC 2017、6月18日~22日、米国Austin)で発表した。講演タイトルは「EM Machine Learning Based Electromigration Waiver System」(講演番号 5.6)である。

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