米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC（International Test Conference）2015」（2015年10月6日～8日）のセッション7「ATE」において，ATEサービス（本社：東京都）の大河原秀雄氏が登壇し、半導体テストシステム（ATE：Automatic Test Equipment）のデジタルチャンネルで高速デジタルインターフェース信号のアイパターンを測定する技術について発表した。講演タイトルは「eRNA：Refining of Reconstructed Digital Waveform」（講演番号7.1）である。
この記事は会員登録で続きをご覧いただけます
-
会員の方はこちら
ログイン -
登録するとマイページが使えます
今すぐ会員登録（無料）
日経クロステックからのお薦め
渾身の記事を直接お届け、2月24日に新サービス「フカメル」開始
9つの世界初を成し遂げた小惑星探査機「はやぶさ2」を深掘りする。裏側には、未踏に挑んだ10人のスペシャリストがいた。とっておきの10の物語を通して、「チームはやぶさ2」が奇跡を成し遂げた理由に迫る。
