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アドバンテストは、米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference) 2015」(10月6日~8日)のセッション3「Analog/Mixed-Signal 1」において、A-D変換器のアパーチャージッター測定技術を発表した。タイトルは「A New Method for Measuring Alias-Free Aperture Jitter in an ADC Output」(講演番号3.1)で、登壇者はアドバンテスト研究所の山口隆弘氏である。

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