PR

アドバンテストは、米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference) 2015」(10月6日~8日)のセッション3「Analog/Mixed-Signal 1」において、A-D変換器のアパーチャージッター測定技術を発表した。タイトルは「A New Method for Measuring Alias-Free Aperture Jitter in an ADC Output」(講演番号3.1)で、登壇者はアドバンテスト研究所の山口隆弘氏である。

この記事は会員登録で続きをご覧いただけます

日経クロステック登録会員になると…

新着が分かるメールマガジンが届く
キーワード登録、連載フォローが便利

さらに、有料会員に申し込むとすべての記事が読み放題に!
【春割実施中】日経電子版セットで2カ月無料


日経クロステックからのお薦め

日経クロステック 春割 日経電子版セット 2カ月無料