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 微細プロセスでのテスト品質を確保するための切り札として、「セル考慮テスト」への期待が高まっている。セル考慮テストとは、セル内の欠陥に起因する故障を考慮したテストである。

 そのセル考慮テストを題材にしたパネル討論会が、米国カリフォルニア州アナハイムで2015年10月6日~8日に開催の「ITC(International Test Conference)2015」で行われた。「PANEL 2:Cell-aware ATPG: Beyond the Hype」がそれである。このパネルでは、ITCのパネルの常連である米ARM社のR. Aitken氏がモデレーターを務めた。パネリストは5名で、技術開発やツールユーザー、故障解析など様々なバックグラウンドを持つ専門家である。パネルの参加者は150名近かった。

 パネリストの1人であるドイツMentor Graphics社のF. Hapke氏は、ITC 2009でセル考慮テストに関する論文を発表し、今回のITCで「Bob Madge Innovation Award」を受賞している。同賞はテスト分野で活躍しながら2014年に若くして急逝したBob Madge氏の功績を称えて設置されたもので、今年が第1回目の授賞である。