米国テキサス州フォートワースで開催の「ITC(International Test Conference) 2016」(2016年11月13日~18日)のセッション3「Analog I」において、ベルギーKU Leuvenと米ON Semiconductor社が共同でアナログ故障モデルに関する講演を行った。講演タイトルは「Effective DC Fault Models and Testing Approach for Open Defects in Analog Circuits」(講演番号3.2)である。

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