「International Test Conference 2016」(米テキサス州フォートワースで2016年11月13日~18日に開催)では、アナログICやアナログ回路のテストが大きな課題になっているとの指摘があった。そこで、筆者は、アナログICやアナログ回路のテストにどのように臨めばよいのかを考察した。

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