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LSI製品はムーアの法則に従い微細化、大規模化が急速に進展し、テストは常に課題であり続けている。その解決のため、これまで、テスト容易化設計や自動テスト生成など、さまざまなテスト技術の研究・開発が行われてきた。しかし、製造欠陥の複雑化・多様化が進む一方、従来型のテスト手法の改良は飽和点に達しつつある。このため、新たな取り組みとして、データマイニング技術を活用したテスト手法が注目されるようになり、LSIテストに関する学会などにおいても多くの論文が発表されている1)。本稿では、半導体業界に浸透しつつある、ビッグデータを活用したLSIテスト技術の概略について述べる。

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