半導体メモリーの自動検査装置メーカーである米Tanisys Technologyはテスト・システムの新製品「Model 400e」を米国時間5月9日に発表した。DDR333/PC166 SDRAMテスト・システム「Model 400」のネットワーク版である。

 Model 400eは,これまで必要だった専用コントローラ「Model 200」を用いることなく動作する。Windows NT搭載パソコンから制御できるので,「大幅にコストを削減できる。高性能DDRやSDRAMモジュールの製造,販売,統合を行う企業にとって最適なテスト・システムである」(Tanisys社)

 「業界はテストにかかるコストの削減を重視している。Model 400eはオリジナルのModel 400の機能をすべて備えながら,この要求に応える。その上,デバイスやモジュールの特性を設計するための新たなツールも追加した」(Tanisys社Sales and Marketing部門バイス・プレジデントのJohn Bennett氏)

 また同社は,欧州と米国でModel 400の受注を数件獲得したことを明らかにした。Bennett氏によると,「業界は回復の兆しをみせており,Tanisys社の顧客は高性能DDRメモリの生産向上を図っている」という。注文を受けたModel 400は2002年第2四半期に出荷する。

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